應(yīng)用案例

晶體板內(nèi)晶格有無檢測(cè)

時(shí)間:[2016-08-24] 瀏覽次數(shù):315427 作者:admin

檢測(cè)內(nèi)容:晶體板內(nèi)晶格有無檢測(cè)

 使用光源:點(diǎn)光源

分析:用點(diǎn)光源和顯微鏡頭拍攝顯微晶元圖像特征呈黑,背景為白,對(duì)比度明顯;而且光線均勻。


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