檢測(cè)內(nèi)容:晶體板內(nèi)晶格有無檢測(cè)
使用光源:點(diǎn)光源
分析:用點(diǎn)光源和顯微鏡頭拍攝顯微晶元圖像特征呈黑,背景為白,對(duì)比度明顯;而且光線均勻。